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X射线光电子能谱仪(XPS)测试

X射线光电子能谱仪(XPS)测试
  • 概述:X射线光电子能谱仪是利用光电效应对样品表面元素进行分析的仪器;可进行微区元素分析(5-30nm)表面元素分析(3-5nm),深度分析,并可进行价态匹配。
  • 应用范围:聚合物、无机化合物、有机化合物、催化剂、涂层材料、纳米材料、薄膜等材料。
  • 元素范围:Li-U
 
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