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X-射线衍射仪(XRD)测试

X-射线衍射仪(XRD)测试

微谱检测中心—XRD用于对晶体物质进行物相分析、晶体结构分析、织构分析,晶胞参数、结晶度、晶型含量等的测定。

  • 品牌:日本理学
  • 技术参数:

    1、扫描方式:θ/2θ或θ/θ,扫描轴:水平 ;

    2、衍射角范围:5°~90°;

    3、靶材:铜靶。

 
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