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扫描电镜能谱仪(SEM-EDS)测试

扫描电镜能谱仪(SEM-EDS)测试

微谱检测中心—扫描电子显微镜主要用于对材料形貌/尺寸进行观察并分析,对带有镀层的材料膜层分析、对材料微区进行EDS元素分析(定性、定量、线分布、面分布、超级面分布)、细胞观察,同时在对材料进行失效分析时进行元素测定、金相分析等。广泛用于材料、化学、生物、医学、地质等领域。

  • 品牌:美国FEI/日立hitachi
  • 配置:1、EDS:布鲁克30mm双探测器(分辨率123eV); 
    2、EBSD:定向背散射电子探测器; 3、高分辨红外CCD; 
    4、气体二次电子探测器; 5、超高真空系统、高真空/低真空/环境真空系统、压差光镧; 6、抛光机、切割机、脆断/冷镶设备、打磨机。
  • 仪器参数:1、支持环境模式; 2、分辨率:环境扫描电子显微镜:3-8nm;冷场扫描电子显微镜:0.8-1.2nm。
 
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